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Die Prüfung zur Festellung der Ermüdungsriss-wachstumsrate (da/Dn) wurde entwickelt, um die Rissausbreitungs-geschwindigkeit unter bestimmten Lastbedingungen zu ermitteln, sobald einmal ein Riss in die Probe aufgetreten ist. Im Diagramm wird die zyklische Spannung gegen die Risswachstumsrate aufgezeichnet, wenn mann die Spannungsintensität unter zugewiesenen Bedingungen testet. Die Abteilung für Forschung & Entwicklung verwendet zahlreiche Messentechniken, einschließlich von: elektrischem Spannungsabfall (EPD), Compliance, geklebten Rissmessgeräten und optischen Messungen. Typischerweise führen wir Prüfungen unter folgenden Bedingungen durch: R-Verhältnis, wellenförmige Last, Frequenz, K-Konzept, Prüftemperatur und Umweltbedingungen. Wir können zahlreiche Probenformen bearbeiten, ebenso wie C(t) Proben mit Breiten bis zu 12,7cm und Zentralriss CC(t) Paneele bis zu 50,8cm breit. Zusammen mit den Standard Probenkonfigurationen können andere Probengeometrien geprüft werden, einschließlich von Druckpunktbiegeproben und einseitig gekerbten Zugproben unter außermittiger Belastung, wie z.B. Kb Balken und Proben mit Kantenrissen. Wir haben Prüfprotokolle für den kundenspezifischen Entwurf von Proben, Komponenten und Verbindungselementen ebenfalls entwickelt.
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Es ist uns möglich, Prüfungen im Frequenzbereich über 30 Hz durchzuführen, in Abhängigkeit von Probengröße und Prüfzustand. Zusätzlich zu Prüfungen von Proben unter konstanter Belastung (sinusförmig, dreieckig, trapezförmig) kann WMT&R Prüfungen auch unter verschiedenen Lastbedingungen durchführen. Dazu zählen der K Gradient, Konstante K, Spektrumbelastung und zyklische Überlastungen.
Die Ergebnisse der Untersuchung zum Ermüdungsrisswachstum werden sowohl in tabellischer Form als auch in grafischer Form dargestellt. Die Paris-Gesetz und Schwellenwerte werden bereitgestellt. Die Diagramme umfassen sowohl dadN gegen DeltaK als auch Risslänge gegen Zyklen.
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